Hintergrund:

Im Allgemeinen müssen Elektronikgeräte und -komponenten Vorgaben bezüglich ihrer elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV) erfüllen. Dazu gehört auch die Störaussendung von elektromagnetischen Feldern, die typischerweise anhand von Antennenmessungen in Absorberkammern oder auf Freifeldern bestimmt wird. Dieses Vorgehen ist jedoch zeit- sowie kostenintensiv und mögliche kritischen Störquellen können nicht lokalisiert werden. Hingegen ist die Bestimmung von Nahfelddaten nicht mit großem Aufwand verbunden und konkreten Störquellen einer Komponente können identifiziert und charakterisiert werden. Auf diese Weise kann die erwartete Feldemission abgeschätzt werden und im Fall einer zu erwartenden Grenzwertüberschreitung ein passgenaues Filter zur Unterdrückung der Störung ausgelegt werden.

Aufgabenbeschreibung:

Mögliche Abschlussarbeiten zu diesem Thema sollen die Umsetzung der Rekonstruktionsmethoden für komplexe Leiterplatten behandeln. So kann sich eine studentische Arbeit mit einer Auswahl der folgenden Punkte beschäftigen:

• Auslegung und Validierung von Filtern zur Reduktion der Störaussendung von Leiterbahnen auf Platinen basierend auf der Auswertung des elektromagnetischen Nahfelds
• Sensitivität der Rekonstruktionsqualität bezüglich der Positionierungsunsicherheit von Messpunkten

Die genaue Aufgabenbeschreibung und der Ablauf der Arbeit werden in einem Vorgespräch mit dem Betreuer abgesprochen.